Microscopia Electrónica de Barrido (SEM) en suelos y otros materiales = Scanning Electron Microscopy (SEM) in soils and otrher materials

Microscopía electrónica de barrido (SEM) en suelos y otros materiales viene a llenar el vacío existente de una metodología de descripción y análisis con SEM en suelos, partículas de tamaño arena/limo/arcilla, materias primas farmacéutico-cosméticas e industriales, biominerales y partículas atmosféricas, tema este último de vanguardia. Incluye más de 350 imágenes SEM, por lo que al estar profusamente ilustrado se ha subtitulado: Atlas de imágenes. Los distintos capítulos temáticos han sido elaborados por especialistas de reconocido prestigio de las universidades de Granada, Sevilla, Autónoma de Madrid, Complutense de madrid, Barcelona, Jaén, Almería y Santiago de Compostela (España); Aveiro y Coimbra (Portugal); Údine (Italia), y Oslo (Noruega). El noved ...